과학/기술 KAIST, 반도체 속 ‘숨은 결함’ 1000배 민감하게 찾는 방법 개발 2026년 01월 08일 관리자 KAIST 연구진이 반도체 결함을 1000배 더 민감하게 검출하는 혁신적인 방법을 개발했습니다. 전자기기 성능 향상에 기여할 이 기술의 미래를 알아보세요!